SN74BCT8245ANT
IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 24-PDIP
型号：
SN74BCT8245ANT
制造商：
Texas Instruments
类别：
集成电路（ICs）
> 逻辑
> 专用逻辑
描述：
IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 24-PDIP
RoHS：
YES
SN74BCT8245ANT 规格
零件状态:
Obsolete
安装类型:
Through Hole
工作温度:
0°C ~ 70°C
封装 / 外壳:
24-DIP (0.300", 7.62mm)
供应商器件封装:
24-PDIP
位数:
8
电源电压:
4.5V ~ 5.5V
逻辑类型:
Scan Test Device with Bus Transceivers
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