SN74ABT8646DL
IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 28BSSOP
型号：
SN74ABT8646DL
制造商：
Texas Instruments
类别：
集成电路（ICs）
> 逻辑
> 专用逻辑
描述：
IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 28BSSOP
RoHS：
YES
SN74ABT8646DL 规格
工作温度:
-40°C ~ 85°C
零件状态:
Discontinued at
安装类型:
Surface Mount
位数:
8
电源电压:
4.5V ~ 5.5V
逻辑类型:
Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
封装 / 外壳:
28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)
供应商器件封装:
28-BSSOP
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