SN74ABT18646PM
IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP
型号：
SN74ABT18646PM
制造商：
Texas Instruments
类别：
集成电路（ICs）
> 逻辑
> 专用逻辑
描述：
IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP
RoHS：
YES
SN74ABT18646PM 规格
工作温度:
-40°C ~ 85°C
零件状态:
Active
安装类型:
Surface Mount
电源电压:
4.5V ~ 5.5V
封装 / 外壳:
64-LQFP
供应商器件封装:
64-LQFP (10x10)
位数:
18
逻辑类型:
Scan Test Device With Transceivers And Registers
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