DS2174QN
ENHANCED BIT ERROR RATE TESTER
型号：
DS2174QN
制造商：
Analog Devices Inc./Maxim Integrated
类别：
集成电路（ICs）
> 接口
> 电信
描述：
ENHANCED BIT ERROR RATE TESTER
RoHS：
YES
：
DS2174QN 规格
工作温度:
-40°C ~ 85°C
零件状态:
Active
安装类型:
Surface Mount
电路数量:
1
接口:
Parallel
封装 / 外壳:
44-LCC (J-Lead)
供应商器件封装:
44-PLCC (16.59x16.59)
电流 - 供电:
60mA
电压 - 供电:
3V ~ 3.6V
功能:
Enhanced Bit Error Rate Tester (EBERT)
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